Komposisyon ng Device
Ang SZO-OCV003 ay binubuo ng mga sumusunod na pangunahing system:
Sistema ng Pag-scan
Ang cell code ay manu-manong ini-scan bago ang pagsubok. Ang na-scan na impormasyon ng cell ay inililipat sa host computer software para sa pamamahala ng data ng pagsubok.
Test Fixture
Kasama sa test fixture ang mekanismo ng pag-aangat, mekanismo ng test probe at mekanismo ng pagpoposisyon ng cell. Matapos ma-scan ang cell code, inililipat ng mekanismo ng pagpoposisyon ang cell sa posisyon ng pagsubok. Ang mekanismo ng probe pagkatapos ay gumagalaw sa pakikipag-ugnay sa mga terminal ng cell para sa pagsusuri sa kuryente.
OCV at IR Testing System
Kasama sa testing system ang mga electrical test instruments at test cables na ginagamit para sa OCV at internal resistance measurement.
Lokal na Monitoring Computer
Pinapatakbo ng host computer ang test software at pinamamahalaan ang impormasyon ng cell at mga resulta ng pagsukat.
Proseso ng Pagsubok
Ang operasyon ng pagsubok ay sumusunod sa isang simpleng pagkakasunud-sunod:
1. Pag-scan ng Cell
Ang cell code ay manu-manong ini-scan at ang impormasyon ng cell ay inililipat sa host computer.
2. Cell Positioning
Ang mekanismo ng pagpoposisyon ay naglilipat ng cell sa itinalagang posisyon ng pagsubok.
3. Probe Contact
Ang test probe ay gumagalaw sa pakikipag-ugnayan sa mga terminal ng cell. Gumagamit ang probe ng serrated contact tip na may gold-plated na ulo.
4. Pagsukat ng OCV at IR
Sinusukat ng sistema ng pagsubok ang bukas-circuit na boltahe at panloob na resistensya ng cell sa loob ng tinukoy na hanay ng pagsukat.
5. Pagrerekord ng Data
Ang mga resulta ng pagsukat ay naitala sa software ng pagsubok at nauugnay sa kaukulang impormasyon ng cell.
Mga Pangunahing Tampok
● OCV at pagsukat ng panloob na pagtutol
● Pag-scan ng cell code para sa pagkilala sa data ng pagsubok
● Awtomatikong pagpoposisyon ng cell at paggalaw ng probe
● Serrated, gold-plated probe head
● Probe contact resistance Mas mababa sa o katumbas ng 5 mΩ
● Probe pressing life Higit sa o katumbas ng 20,000 cycle
● Ang resolution ng boltahe pababa sa 10 μV
● Hanay ng pagsukat ng panloob na resistensya na 0–3 mΩ
● Internal resistance na resolution na 0.1 μΩ
Subukan ang pamamahala ng data sa pamamagitan ng host computer
Pagkakatugma ng Cell
Ang SZO-OCV003 ay idinisenyo para sa mga cell ng baterya sa loob ng sumusunod na hanay ng dimensyon.
| item | Pagtutukoy |
|---|---|
| Taas ng Cell (H) | 118–210 mm |
| Lapad ng Cell (W) | 130–173 mm |
| Kapal ng Cell (T) | 36–72 mm |
Ang aktwal na pagkakatugma ay dapat kumpirmahin ayon sa mga sukat ng cell, pag-aayos ng terminal at pagsasaayos ng kabit bago ang pagpili ng kagamitan.
Mga aplikasyon
Maaaring gamitin ang SZO-OCV003 para sa:
● Papasok na inspeksyon ng cell ng baterya
● Pagsusuri sa produksyon ng cell
● OCV at internal resistance testing
● R&D ng baterya at pagsubok sa laboratoryo
● Kontrol sa kalidad ng cell
● Pangongolekta ng data ng pagganap ng cell
● Traceability ng resulta ng pagsubok
Teknikal na Pagtutukoy
| item | Pagtutukoy |
|---|---|
| Kapasidad ng Pagsubok | 1 baterya bawat pagsubok* |
| Power Supply | AC 220 V ±10%, tatlong-phase five-wire, 50 Hz |
| Kapaligiran sa Pagtatrabaho | 10–40℃; relative humidity Mas mababa sa o katumbas ng 60% |
| Compressed Air | 0.5–0.8 MPa |
| Kapangyarihan ng Kagamitan | Mas mababa sa o katumbas ng 1.0 kW |
| Timbang ng Kagamitan | Mas mababa sa o katumbas ng 500 kg |
| Probe Pressing Life | Higit sa o katumbas ng 20,000 cycle |
| Probe Contact Resistance | Mas mababa sa o katumbas ng 5 mΩ |
| Test Cable | Twisted shielded pair |
| Katumpakan ng Pagsusuri ng Boltahe | ±(0.0035% set + 0.0005% FS) |
| Resolusyon ng Boltahe | 10 μV |
| Saklaw ng Panloob na Paglaban | 0–3 mΩ |
| Katumpakan ng Panloob na Paglaban | ±0.5% rdg. ±10 dgt |
| Resolusyon sa Panloob na Paglaban | 0.1 μΩ |
| GRR | Mas mababa sa o katumbas ng 10% |
Lokal na Monitoring Computer
| item | Pagtutukoy |
|---|---|
| Operating System | Windows 10 o mas bago |
| CPU | Intel Core i7 o mas mataas |
| Alaala | 12 GB o higit pa |
| Hard Disk | 1 TB o higit pa |
| Display | 19-inch LCD o mas malaki |
| Wika ng Software | Pinasimpleng Chinese |
FAQ
Ano ang sinusuri ng SZO-OCV003?
Sinusukat ng makina ang bukas-circuit voltage (OCV) at internal resistance (IR) ng mga cell ng baterya para sa inspeksyon, screening at kontrol sa kalidad.
Paano nakikilala ang mga cell bago ang pagsubok?
Ang cell code ay manu-manong ini-scan bago ang pagsubok. Ang na-scan na impormasyon ay maaaring iugnay sa kaukulang mga resulta ng pagsukat sa host computer software.
Anong mga sukat ng cell ang sinusuportahan?
Ang mga tinukoy na sukat ng cell ay 118–210 mm ang taas, 130–173 mm ang lapad at 36–72 mm ang kapal. Dapat ding kumpirmahin ang pagkakaayos ng terminal at pagkakatugma ng fixture bago ang pagpili ng kagamitan.
Ano ang saklaw ng pagsukat ng panloob na pagtutol?
Ang tinukoy na saklaw ng pagsukat ng panloob na pagtutol ay 0–3 mΩ, na may resolusyon na 0.1 μΩ.
Maaari bang masubaybayan ang mga resulta ng pagsubok sa mga indibidwal na cell?
Oo. Ang impormasyon ng cell mula sa proseso ng pag-scan ay maaaring iugnay sa kaukulang mga resulta ng pagsubok sa host computer software, na sumusuporta sa traceability ng data ng pagsubok.